JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

根据GB7354-87“局部放电测量”标准推荐的几种检测基本回路如图4-1,图4-2,图4-3。

上述四种检测回路的特性扼要叙述如下。

JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

图4-1 检测阻抗与耦合电容串联JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

图4-2 检测阻抗与试品串联JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

图4-3 在套管抽头端测量的试验回路

图4-1,检测阻抗接在耦合电容器的接地侧,这种回路适用于有一端接地的试品,试品和高压电源间的阻塞阻抗Z用以衰减来自高压电源的干扰,阻塞阻抗Z还阻止试品局部放电脉冲经电源阻抗旁路,从而增加灵敏度。

图4-2,在此回路中检测阻抗接在试品的低压侧,试品低压侧必须与地隔开。有时,试验变压器入口电容和高压引线的杂散电容可起耦合电容CK的作用,而不需再接专门的耦合电容器。此种接线特别适用于试品电容小于试验变压器入口电容和杂散电容的情况,若试验变压器的入口电容至少与CX有同样数量级,当无阻塞阻抗Z时,这种接线也是令人满意的。

图4-3,此回路由图4-1回路导出,适用于装有带抽头电容套管的试品,套管电容代替耦合电容CK,检测阻抗接在套管抽头的端子上,在这种情况下,检测阻抗两端有相当大的电容Cm,可能影响检测灵敏度。

图4-4,此种回路用于试品为电力变压器或电压互感器,由感应产生试验电压的情况,也是由图4-1回路导出。

JFD-251局部放电检测系统几种常规测量回路

图4-4 感应加压试品测量的试验回路

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